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期刊論文
Katherine Shu-Min Li; Leon Li-Yang Chen; Peter Yi-Yu Liao; Sying-Jyan Wang; Andrew Yi-Ann Huang; Leon Chou; Nova Cheng-Yeh Tsai; Ken Chau-Cheung Cheng; Gus Chang-Hung Han; Chen-Shiun Lee; Jwu E. Chen; Hsing-Chung Liang; Chung-Lung Hsu , “Wafer Scratch Pattern Reconstruction for High Diagnosis Accuracy and Yield Optimization” ,
2022
,
IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING
, vol.35 , p.272-281.
(EI期刊)(SCI期刊)
Katherine Shu-Min Li; Xu-Hao Jiang; Leon Li-Yang Chen; Sying-Jyan Wang; Andrew Yi-Ann Huang; Jwu E. Chen; Hsing-Chung Liang; Chun-Lung Hsu , “Wafer Defect Pattern Labeling and Recognition Using Semi-Supervised Learning” ,
2022
,
IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING
, vol.35 , p.291-299.
(EI期刊)(SCI期刊)
Ken Chau-Cheung Cheng; Leon Li-Yang Chen; Ji-Wei Li, Katherine Shu-Min Li; Nova Cheng-Yen Tsai; Sying-Jyan Wang; Andrew Yi-Ann Huang; Leon Chou; Chen-Shiun Lee; Jwu E. Chen; Hsing-Chung Liang; Chun-Lung Hsu , “Machine Learning-Based Detection Method for Wafer Test Induced Defects” ,
2021
,
IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING
, vol.34 , p.161-167.
(SCI期刊)
Katherine Shu-Min Li; Peter Yi-Yu Liao; Ken Chau-Cheung Cheng; Leon Li-Yang Chen; Sying-Jyan Wang; Andrew Yi-Ann Huang; Leon Chou; Gus Chang-Hung Han; Jwu E. Chen; Hsin-Chung Liang; Chung-Lung Hsu , “Hidden Wafer Scratch Defects Projection for Diagnosis and Quality Enhancement” ,
2021
,
IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING
, vol.34 , p.9-16.
(SCI期刊)
梁新聰;何長融 , “Designing Circuits for Low-Power Testing of Transition Delay Faults” ,
2017
,
Journal of Advanced Engineering
, vol.12 , p.61-69.
(HyRead台灣全文資料庫期刊)
梁新聰; 胡家瑋 , “部份掃瞄之低功率測試方式” ,
2009
,
電子月刊
, vol.0 , p.114-122.
梁新聰 , “Improved Representatives for Judging Unrepairability and Deciding Economic Repair Solutions of Memories” ,
2009
,
Journal of Circuits, Systems, and Computers
, vol.18 , p.81-95.
(SCI期刊)
梁新聰;黃柏馨;湯燕飛 , “Testing Transition Delay Faults in Modified Booth Multipliers” ,
2008
,
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
, vol.27 , p.1693-1697.
(SCI期刊)
梁新聰 , “Pepresentatives of Economical Repair Solutions for Memories” ,
2007
,
Journal of Advanced Engineering
, vol.2 , p.49-54.
Hsing-Chung Liang, Wen-Chin Ho, Ming-Chieh Cheng , “Identify Unrepairability to Speed up Spare Allocation for Repairing Memories” ,
2005
,
IEEE Transactions on Reliability
, vol.54 , p.358-365.
(SCI期刊)
梁新聰;章志名;周煌程 , “Speeding up failure shape analysis for memory diagnosis” ,
2005
,
WSEAS Transactions on Circuits and Systems
, vol.4 , p.634-641.
(EI期刊)
Hsing-Chung Liang, Chung Len Lee , “Flip-Flop Selection for Mixed Scan and Reset Design Based on Test Generation and Structure of Sequential Circuits” ,
2000
,
Journal of Information Science and Engineering
, vol.16 , p.687-702.
(SCI期刊)
Hsing-Chung Liang, Chung Len Lee, Jwu E Chen , “Identifying Invalid States for Sequential Circuit Test Generation” ,
1997
,
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
, vol.16 , p.42-48.
(SCI期刊)
Hsing-Chung Liang, Chung Len Lee, Jwu E Chen , “Identifying Untestable Faults in Sequential Circuits” ,
1995
,
IEEE Design & Test of Computers
, vol.12 , p.14-23.
(SCI期刊)
研討會論文
陳芊;梁新聰;陳聿廣 , “新建晶圓圖相似性門檻以強化相似程度辨別能力” ,
2023
,
2023民生電子國際研討會
, 2023 /12 /16 ~ 2023 /12 /16 , 中華民國 台灣 .
李文睿;梁新聰 , “以不良鄰晶片影響中央晶片改善晶圓圖瑕疵辨識精準度” ,
2023
,
2023民生電子國際研討會
, 2023 /12 /16 ~ 2023 /12 /16 , 中華民國 台灣 .
陳致瑋;梁新聰 , “基於機器學習的方式分析電路結構以追硬體木馬” ,
2023
,
2023民生電子國際研討會
, 2023 /12 /16 ~ 2023 /12 /16 , 中華民國 台灣 .
林慧昇;陳竹一;梁新聰;陳聿廣 , “Recognizing Grid and Sparse Defect Patterns on Wafer Maps” ,
2023
,
The 12th International Multi-Conference on Engineering and Technology Innovation 2023
, 2023 /10 /27 ~ 2023 /10 /31 , 中華民國 台灣 .
黃韋澄;陳竹一;梁新聰;陳聿廣 , “Wafer Defect Pattern Identification Using Cluster Filtering Strategy and CNN Computation” ,
2023
,
The 12th International Multi-Conference on Engineering and Technology Innovation 2023
, 2023 /10 /27 ~ 2023 /10 /31 , 中華民國 台灣 .
謝文陽;陳竹一;梁新聰;陳聿廣 , “Integration of Feature Based NFTS System and Special Scratch Recognition System for Wafer Map Classification” ,
2023
,
The 12th International Multi-Conference on Engineering and Technology Innovation 2023
, 2023 /10 /27 ~ 2023 /10 /31 , 中華民國 台灣 .
何宗翰;陳竹一;梁新聰;陳聿廣 , “Extracting Feature Parameters for Analysis of Defect Patterns on Wafer Bin Maps” ,
2023
,
The 12th International Multi-Conference on Engineering and Technology Innovation 2023
, 2023 /10 /27 ~ 2023 /10 /31 , 中華民國 台灣 .
Yen-Wei Liu;Hsing-Chung Liang;Wen-Yaw Chung , “The Development of System Integration and Portable Device of Uric Acid Readout Circuit for the Prevention of Urolithiasis Rescurrence” ,
2023
,
台灣創新發明教育學會2023創新發明應用研討會
, 2023 /3 /31 ~ 2023 /3 /31 , 中華民國 台灣 .
Yen-Cheng Lin; Hsing-Chung Liang; Jwu-E Chen , “Recognizing Wafer Defects by Using Statistic Analysis of Geometric Features” ,
2022
,
The 33rd VLSI Design/CAD Symposium
, 2022 /8 /2 ~ 2022 /8 /5 , 中華民國 台灣 .
Chien-Pu Lu; Hsing-Chung Liang , “Exploring All Pairs of Circuit Nodes to Generate Combinational Hardware Trojan Detecting Patterns” ,
2022
,
The 33rd VLSI Design/CAD Symposium
, 2022 /8 /2 ~ 2022 /8 /5 , 中華民國 台灣 .
劉哲良;梁新聰 , “部份隨意測試信號產生掃描鏈觀察圖以診斷掃描鏈固值障礙” ,
2022
,
2022年DLT數位生活科技研討會
, 2022 /5 /13 ~ 2022 /5 /14 , 中華民國 台灣 .
林彥成;梁新聰;陳竹一 , “晶圓瑕疵樣態的幾何特徵參數提取與分析” ,
2022
,
2022年DLT數位生活科技研討會
, 2022 /5 /13 ~ 2022 /5 /14 , 中華民國 台灣 .
陳立穎;梁新聰;黃世旭 , “使用等價性檢查修正電路功能之工程變更指令演算法” ,
2022
,
2022年DLT數位生活科技研討會
, 2022 /5 /13 ~ 2022 /5 /14 , 中華民國 台灣 .
謝岱良;梁新聰 , “使用靜態電流測試圖樣及故障字典診斷電晶體短路故障” ,
2022
,
銘傳大學2022資訊科技與實務國際研討會
, 2022 /3 /11 ~ 2022 /3 /11 , 中華民國 台灣 .
陳鵬文;梁新聰 , “使用商業軟體為預設組合硬體木馬產生測試圖樣” ,
2022
,
銘傳大學2022資訊科技與實務國際研討會
, 2022 /3 /11 ~ 2022 /3 /11 , 中華民國 台灣 .
盧建甫;梁新聰 , “使用固執障礙測試圖樣及自動化測試圖樣產生軟體建立組合硬體” ,
2022
,
銘傳大學2022資訊科技與實務國際研討會
, 2022 /3 /11 ~ 2022 /3 /11 , 中華民國 台灣 .
Hua-Ren Li; Hsing-Chung Liang , “Judging Rare Nodes of Trojan Risks by Using Parallel Justification-All Method” ,
2021
,
The 32th VLSI Design/CAD Symposium
, 2021 /8 /3 ~ 2021 /8 /6 , 中華民國 台灣 .
Po-Lin Huang; Hsing-Chung Liang; Jwu E Chen , “Feature-based Detection Method for Wafer Defect Pattern Classification” ,
2021
,
The 32th VLSI Design/CAD Symposium
, 2021 /8 /3 ~ 2021 /8 /6 , 中華民國 台灣 .
Hua-Ren Li;Hsing-Chung Liang , “GPU-based ATPG System by Scaling Memory Usage and Reducing Data Transfer” ,
2021
,
26th IEEE European Test Symposium
, 2021 /5 /24 ~ 2021 /5 /28 , Belgium .
Katherine Shu-Min LI;Leon Li-Yang CHEN;Peter Yi-Yu LIAO;Ken Chau-Cheung CHENG;Sying-Jyan WANG;Andrew Yi-Ann HUANG;Leon CHOU;Chen-Shiun LEE;Gus Chang-Hung HAN;Jwu E CHEN;Hsing-Chung LIANG;Chun-Lung HSU , “Automatic Inspection for Wafer Defect Detection with Unsupervised Clustering Techniques” ,
2021
,
26th IEEE European Test Symposium
, 2021 /5 /24 ~ 2021 /5 /28 , Belgium .
Sean Y. S. Chen;Jwu E. Chen;Tung-Ying Lu;Shih Tsung Huang;Hsing-Chung Liang;Katherine Shu-Min Li;Clark Y.H. Liu , “Analysis of the Spatial Pattern Randomness for the Wafer Map Benchmarks” ,
2020
,
2020 VLSI Test Symposium
, 2020 /4 /6 ~ 2020 /4 /8 , United States .
Ken Chau-Cheung Cheng ; Katherine Shu-Min Li ; Andrew Yi-Ann Huang ; Ji-Wei Li ; Leon Li-Yang Chen ; Nova Cheng-Yen Tsai ; Sying-Jyan Wang ; Chen-Shiun Lee ; Leon Chou ; Peter Yi-Yu Liao ; Hsing-Chung Liang ; Jwu-E Chen , “Wafer-Level Test Path Pattern Recognition and Test Characteristics for Test-Induced Defect Diagnosis” ,
2020
,
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
, 2020 /3 /9 ~ 2020 /3 /13 , France .
Hua-Ren Li; Hsing-Chung Liang , “Speeding up Fault Simulation with Graphic Processing Units by Using 3D Parallelism” ,
2019
,
The 30th VLSI Design/CAD Symposium
, 2019 /8 /6 ~ 2019 /8 /9 , 中華民國 台灣 .
Jwu E Chen;Tung-Ying Lu;Hsing-Chung Liang , “Testing the Spatial Pattern Randomness on Wafer Maps” ,
2019
,
The 13th VLSI Test Technology Workshop
, 2019 /7 /8 ~ 2019 /7 /10 , 中華民國 台灣 .
李華仁;梁新聰 , “使用圖形處理器加速邏輯及障礙模擬程序” ,
2018
,
2018智慧電子車用電子研討會
, 2018 /12 /5 ~ 2018 /12 /5 , 中華民國 台灣 .
李勁緯;梁新聰 , “低功率投值後抓值測試之正反器分群方法” ,
2017
,
智慧車用電子研討會
, 2017 /12 /12 ~ 2017 /12 /12 , 中華民國 台灣 .
陳勳聖;梁新聰 , “以兩區塊模型尋找低功率位移後投值測試圖樣” ,
2017
,
智慧車用電子研討會
, 2017 /12 /12 ~ 2017 /12 /12 , 中華民國 台灣 .
Ya-Syuan Wu; Ching-Ju Lin; Jwu E Chen; Hsing-Chung Liang , “The Rainbow Transformed from a Set of Uniform-defect Wafer Maps” ,
2017
,
International Test Conference
, 2017 /11 /31 ~ 2017 /12 /2 , United States .
陳勳聖;李勁緯;梁新聰 , “以三角形範圍分割法尋找電路等效障礙模型” ,
2016
,
2016 Intelligent Automotive Electronics Workshop
, 2016 /12 /6 ~ 2016 /12 /6 , 中華民國 台灣 .
李東軒;梁新聰 , “改進正反器分群方式及數量以降低多掃瞄段設計之測試功率” ,
2016
,
2016航空暨工程科技應用學術論文發表研討會
, 2016 /11 /18 ~ 2016 /11 /18 , 中華民國 台灣 .
黃琨耀;梁新聰 , “設計部分正反器以產生低功率LOC 測試圖樣之方法” ,
2016
,
2016航空暨工程科技應用學術論文發表研討會
, 2016 /11 /18 ~ 2016 /11 /18 , 中華民國 台灣 .
梁新聰;許翊筠 , “Generating Low-Power Launch-Off-Shift Patterns for Multi-Segment Scan Chains” ,
2016
,
2016 Workshop on Consumer Electronics
, 2016 /11 /19 ~ 2016 /11 /19 , 中華民國 台灣 .
邱柏榮;陳宇辰;羅名文;梁新聰 , “智慧電子藍芽遙控車之製作” ,
2015
,
2015智慧車用電子研討會
, 2015 /12 /1 ~ 2015 /12 /1 , 中華民國 台灣 .
蔣卓均;戴亦軒;陳澤銘;梁新聰 , “色彩平衡導向之雙色填圖” ,
2015
,
2015智慧車用電子研討會
, 2015 /12 /1 ~ 2015 /12 /1 , 中華民國 台灣 .
郭啟鍊;高唯展;廖文聖;梁新聰;黃琨耀 , “低功率位移時投值測試轉態延遲障礙之圖樣排列方法” ,
2015
,
2015智慧車用電子研討會
, 2015 /12 /1 ~ 2015 /12 /1 , 中華民國 台灣 .
羅光益;許翊芸;梁新聰 , “固定正反器邏輯值之低功率轉態延遲障礙測試信號” ,
2014
,
2014智慧車用電子研討會
, 2014 /12 /2 ~ 2014 /12 /2 , 中華民國 台灣 .
許翊芸;羅光益;梁新聰 , “系統同晶片之低功率測試排程 ” ,
2014
,
2014智慧車用電子研討會
, 2014 /12 /2 ~ 2014 /12 /2 , 中華民國 台灣 .
盧哲偉;梁新聰 , “低功率多掃描串測試圖樣之排序方法” ,
2014
,
2014 The 9th Intelligent Living Technology Conference
, 2014 /6 /6 ~ 2014 /6 /6 , 中華民國 台灣 .
梁新聰;何長融 , “Multi-function Controller for Low-Power Multiple Scan Test of Transition Delay Faults” ,
2014
,
2014 IEEE The 3rd International Symposium on Next-Generation Electronics
, 2014 /5 /7 ~ 2014 /5 /10 , 中華民國 台灣 .
范逸芬;梁新聰 , “自動感測及閃避障礙物之車用控制系統設計” ,
2013
,
2013 Intelligent Automotive Electronics Workshop
, 2013 /12 /10 ~ 2013 /12 /10 , 中華民國 台灣 .
呂承韋;梁新聰 , “位移時投值測試轉態延遲障礙之正反器順序決定方法” ,
2013
,
2013 Intelligent Automotive Electronics Workshop
, 2013 /12 /10 ~ 2013 /12 /10 , 中華民國 台灣 .
何長融;梁新聰 , “低功率多掃描段測試架構之多功能控制電路設計” ,
2013
,
2013 Intelligent Automotive Electronics Workshop
, 2013 /12 /10 ~ 2013 /12 /10 , 中華民國 台灣 .
Hsing-Chung Liang; Qian-You Zhan , “Low Power Test Patterns for Transition Delay Faults by Freezing Clocks during Launch Operations” ,
2013
,
The 24th VLSI Design/CAD Symposium
, 2013 /8 /6 ~ 2013 /8 /9 , 中華民國 台灣 .
詹前佑;梁新聰 , “大量減少正反器投值動作之低功率測試圖樣產生方法” ,
2013
,
The 8th Intelligent Living Technology Conference
, 2013 /6 /7 ~ 2013 /6 /7 , 中華民國 台灣 .
梁新聰;林俊毅;詹前佑 , “Reducing Launch Operations on Flip-Flops for Low Power Test Application” ,
2012
,
The 23th VLSI Design/CAD Symposium
, 2012 /8 /7 ~ 2012 /8 /10 , 中華民國 台灣 .
林俊毅; 梁新聰 , “保持正反器原值以測試多數轉態延遲障礙之低功率測試圖樣” ,
2012
,
2012 第十屆微電子技術發展與應用研討會
, 2012 /5 /25 ~ 2012 /5 /25 .
李承翰; 梁新聰 , “低功率多掃瞄串測試之正反器分串方法” ,
2012
,
2012 民生電子論壇智慧綠能
, 2012 /5 /11 ~ 2012 /5 /11 , 中華民國 台灣 .
王俊田; 黃泓文; 陳竹一; 梁新聰 , “Hierarchical Selection Recognition for Wafer Map” ,
2011
,
2011 Workshop on Consumer Electronics
, 2011 /11 /11 ~ 2011 /11 /11 .
梁新聰; 羅文益 , “Parallel Automatic Test Pattern Generation Using Multiple Threads” ,
2011
,
The 22st VLSI Design/CAD Symposium
, 2011 /8 /2 ~ 2011 /8 /5 .
羅文益;梁新聰 , “使用多執行緒之平行性自動測試圖樣產生器” ,
2011
,
2011資通技術管理與應用研討會
, 2011 /6 /10 ~ 2011 /6 /10 .
Chin-Hai Huang; Chih-Chuan Chen; Hsing-Chung Liang , “New Pixel Design for PVA Mode LCD Color Shift Improvement” ,
2010
,
The 17th International Display Workshops
, 2011 /12 /7 ~ 2011 /12 /9 .
梁新聰;張展魁 , “Generating Test Patterns Simultaneously for Both Transition Delay and Stuck-Open Faults” ,
2010
,
The 21st VLSI Design/CAD Symposium
, 2010 /8 /3 ~ 2010 /8 /6 .
吳書緯;梁新聰 , “針對傳輸延遲障礙的快速決定性測試向量產生器” ,
2010
,
The 5th Intelligent Living Technology Conference
, 2010 /6 /4 ~ 2010 /6 /4 .
張展魁;梁新聰 , “同步尋找轉態延遲及電晶體固定開路之加強型掃瞄測試圖樣” ,
2010
,
The 5th Intelligent Living Technology Conference
, 2010 /6 /4 ~ 2010 /6 /4 .
簡宏達;梁新聰 , “Design a Learning Platform for VLSI Test Plan Tools” ,
2010
,
Intn'l Conf. on Computer and Network Technologies in Education
, 2010 /4 /29 ~ 2010 /4 /30 .
簡宏達;梁新聰 , “電路測試設計軟體之學習平台設計” ,
2010
,
2010電腦與網路科技在教育上的應用研討會
, 2010 /4 /29 ~ 2010 /4 /30 .
陸慶恩;梁新聰 , “Reducing Test Power by Partial Gating on Scan-Chain Outputs” ,
2009
,
Workshop on Consumer Electronics
, 2009 /11 /6 ~ 2009 /11 /6 , 中華民國 台灣 .
陸慶恩;梁新聰 , “Reducing Test Power by Partial Gating on Scan-Chain Outputs” ,
2009
,
National Computer Symposium
, 2009 /11 /27 ~ 2009 /11 /28 .
胡家瑋;梁新聰 , “Low-Power Transition Test in Partial Scan Design” ,
2009
,
Electronic Technology Symposium
, 2009 ~ 2009 .
湯燕飛;梁新聰 , “Efficient Design of Deterministic TPG for High Pattern Hit Rate” ,
2009
,
The 2nd Conference on Integrated Opto-Electro-Mechanical Technology
, 2009 ~ 2009 .
梁新聰; 黃柏馨 , “Testing Transition Delay Faults in Modified Booth Multipliers by Using C-testable and SIC Patterns” ,
2007
,
TENCON, IEEE Region 10 International Conference
, 2007 /10 /30 ~ 2007 /11 /2 .
梁新聰,黃柏馨 , “Test Generation for Transition Delay and RS-CFM Faults in Modified Booth Multipliers” ,
2007
,
The 18th VLSI Design/CAD Symposium
, 2007 /8 /7 ~ 2007 /8 /10 .
Hsing-Chung Liang, Le-Quen Tzeng , “Improved Representatives for Unrepairability Judging and Economic Repair” ,
2006
,
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing
, 2006 /8 /2 ~ 2006 /8 /4 .
黃建豪,梁新聰 , “Modified Booth Multiplier with BIST and Wrapper Design for SoC” ,
2005
,
The 16th VLSI Design/CAD Symposium
, 2007 ~ 2007 .
章志名,梁新聰,周煌程 , “Speed-up of Memory Failure Shape Analysis” ,
2005
,
9th WSEAS International Conference on Circuits
, 2007 ~ 2007 .
林智義,梁新聰 , “Bus-oriented DFT Design for Embedded Cores” ,
2004
,
IEEE Asia-Pacific Conference on Circuits and Systems
, 2007 ~ 2007 .
林智義,梁新聰 , “Bus-oriented DFT Design for Embedded Cores” ,
2004
,
The 15th VLSI Design/CAD Symposium
, 2007 ~ 2007 .
梁新聰,鄭明杰 , “Identify Unrepairability to Accelerate Memory Reconfiguration” ,
2003
,
The 14th VLSI Design/CAD Symposium
, 2007 ~ 2007 .
梁新聰,何文清,鄭明杰 , “Redundancy Selection for Repairing Memory Arrays” ,
2002
,
The 2002 VLSI Design/CAD Symposium
, 2007 ~ 2007 .
梁新聰,李崇仁 , “An Effective Methodology for Mixed Scan and Reset Design Based on Test Generation and Structure of Sequential Circuits” ,
1999
,
IEEE The Eighth Asian Test Symposium
, 2007 ~ 2007 .
梁新聰,Chung Len Lee,Jwu E Chen , “Partial Reset and Scan for Flip-Flops Based on States Requirement for Test Generation” ,
1998
,
IEEE The 16th IEEE VLSI Test Symposium
, 1998 /4 ~ 1998 /4 .
技術報告
梁新聰 , “控制多掃瞄串進行低功率測試之設計研究” ,
2015
.
梁新聰 , “低功率可測性設計整合流程之研究” ,
2011
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梁新聰 , “轉態延遲障礙之高品質測試圖樣研究” ,
2010
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梁新聰 , “轉態延遲障礙之低功率測試圖樣與可測性設計” ,
2008
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梁新聰 , “布斯乘法器軟智財晶片之可測性設計研究” ,
2006
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